關于光譜分析入門
光譜分析是一種測量技術;它通過測量材料與不同波長光的相互作用情況來檢查材料的屬性。有幾種不同的交互作用可被測量,包括材料對光的吸收、反射和透射。
材料的特性可通過測量有多少光能被吸收以及哪些波長的能量被吸收進行分析。吸收的波長取決于材料成分——脂肪、蛋白質和不同類型的糖分子——而吸收的強度由材料的內部成分的濃度決定。根據由材料表面層反射光的強度和波長,也可以對材料進行定性分析,而反射光的強度和波長由成分和表面本身的屬性決定。
在某些情況下,當被外部能量源照亮時,材料能夠發(fā)射出一個或多個獨特波長的光。這些可以包括熒光分子或物質,而這些分子或物質存在于多種植物和動物體內。
很多光譜分析應用中的一個常見特性就是需要快速獲得分析結果。目前,大多數光譜分析儀器不是不太適合于現場環(huán)境,就是不適用于數據處理系統(tǒng),諸如計算機和其它精密系統(tǒng),對便攜性具有一定的限制。
一個將高性能實驗室系統(tǒng)的精度與功能性和便攜性組合在一起的系統(tǒng)將極大地提高近紅外 (NIR) 光譜分析作為強大、實時分析工具的效用。例如,我們可以想象一臺具有實驗室儀器的性能的、由電池供電的手持式光譜分析儀。屆時,很多目前無法支持的應用都能夠被實現。
傳統(tǒng)光譜分析方法
大多數色散紅外(IR)光譜測量在開始時都采用同樣的測量方式。將被分析的光穿過一個小狹縫,它與控制儀器分辨率的光柵組合在一起。這個衍射光柵是一個專門設計用于以已知角度反射不同波長光的元件。這些波長的空間分離使得其它系統(tǒng)能夠以波長為基礎測量光強度。
光譜測量的傳統(tǒng)架構的主要差別在于色散光的測量方式。兩個最常見的傳統(tǒng)方法為1. 與色散光的物理掃面組合在一起的單個元件(或單點)探測器,以及2. 將色散光成像于一個探測器陣列上。
在第一種方法中,來自光柵的色散光被聚焦在單個探測器上。為了分析多個波長上的功率,光柵(通常情況下如此)或者聚焦元件必須適當地旋轉,以便將來自每個波長的光調節(jié)到探測器上。要執(zhí)行掃描,與探測器相關的電子元器件必須與光柵的運動同步,這樣的話,測得的功率就與正確的波長相一致。這就要求機械旋轉系統(tǒng)非常精確,并因此在體積方面變得十分龐大,而這也限制了這個方法在實驗室之外的實用性。此外,為了實現高波長分辨率,這個方法需要小區(qū)域探測器。較小的探測器區(qū)域能夠減少總體光采集,并因此降低了靈敏度。
在第二種方法中,衍射光柵和聚焦目標的位置是固定的,并且色散光聚焦在一個探測器的線性陣列上。由于這些波長在空間上被光柵隔離開來,探測器陣列中的每個探測器采集小波長范圍內的光,而作為離散波長函數的功率的獲得方法與在數碼相機上進行圖像采集的方法相類似。這就免除了對于機械系統(tǒng)和精密同步電子元器件的需要。