另一個不可忽視的問題是模擬電路本身所帶來的噪聲、失調和增益誤差的影響，如圖 3所示簡化的電壓測量電路，第一張圖為1000V量程的測量通路，最高輸入電壓1000V時通過衰減電路會輸出1V電壓，放大電路不放大，跟隨電壓后送入ADC進行采樣。如果輸入10V時衰減電路只能輸出0.01V的電壓，首先如此小的信號疊加噪聲后會對信號本身產生很大影響，其次由于放大電路（運放）的失調和增益誤差的影響，哪怕只產生0.1mV的失調和增益誤差都會對0.01V的有效信號產生很大的誤差。在儀器的出廠前會對這些誤差進行校準以消除固有的偏差，不過因使用過程中溫度和老化的影響這些值會發生變化，在標示儀器的精度指標時會留有一定的余量以確保儀器處在可保證的精度內，但是如果用大量程去測量小信號時溫度和老化產生的影響將無法得到保證。

在測量較小信號時應使用圖 3 第二張所示的電路，首先衰減電路進行較小倍數的衰減，10V輸入時衰減電路輸出0.1V，然后放大電路將有效信號放大10倍到1V送入ADC取樣。這樣的處理方式將會顯著減少噪聲、失調和增益誤差的影響，在包含小量程的測量設備中通常會采用這樣的方式或等效的方式進行處理。