在照明行業中，在測試9KHz-30MHz波段的EMI中有兩種方法，一種是采用Antenna（天線）和EMI接收機，其依據標準是CISPR15，EN55015，GB17743。對于照明燈具可能產生的低頻磁場設備，需要采用CISPR16-1-4規定的三環天線測量其低頻磁場輻射騷擾。主要是由三環天線和EMI接收機進行測試，測試時需在屏蔽室室內進行。注：三環天線將X方向，Y方向和Z方向低頻磁場分量轉化為RF信號，并通過同軸開關三個通道輸送到EMI接收機進行測量；另外一種是采用LISN測試方法，測試時需要由EMI接收機+人工電源網絡+LISN和測試軟件進行。傳導騷擾測試系統用于測量燈和燈具照明設備在正常工作狀態下電源端口產生的騷擾，LISN實現RF信號的隔離，采樣，阻抗匹配，并為EUT提供電通道，EMI接收機對RF信號進行測量，并最終由EMI測試軟件進行分析，處理和判限。測試時需在屏蔽室進行。

與此同時，在9KHz-300MHz波段的EMI測試中采用的是CDN法。在CISPR15，EN55015和GB17743標準中還提供另外一種照明設備的輻射電場騷擾測試方法，即CDN共模端子電壓法。采用CDN法，主要包括EMI接收機，CDN和衰減器。測試時可以在屏蔽室內進行。

根據相關基礎標準如CISPR16，力汕研發生產了兩款EMI測試設備，而針對傳統及新型照明行業標準，兩款設備的掃描頻率各不同， EMI-9KB EMI掃描頻率為9KHz~300MHz，適合LED及傳統照明設備的檢測； EMI-9KA EMI掃描頻率為9KHz~30MHz則主要適合傳統照明設備的檢測。而判定被測物是否符合標準，我們引用了峰值，準峰值和平均值三個值來判定，考慮到不同標準的差異，軟件可直接調用GB17743、FCC、EN55015、GB4343等判定標準。

2.2、靜電放電

LED屬于半導體器件，在LED制造、裝配、運輸、存儲、使用各階段中，生產設備、材料、和操作者都可能給LED帶來靜電損失，導致LED過早出現漏電流增大、光衰加重，甚至“死燈”現象。靜電放電對LED的電光參數包括反向漏電流、正向I-V特性、光通量均會造成一定程度的劣化。靜電放電是影響LED及LED照明產品可靠性的重要因素之一。

LED是LED照明產品的關鍵材料。對于LED的靜電放電抗擾度測試，應遵循相關國際標準如美國國家標準ANSI/ESD STM5.1、ANSI/ESD STM5.2，國際電子電工協會標準JESD22-A114D、JESD22-A115-A，美國軍方標準MIL-STD-883等。上海力汕電子科技研發的的ESD61000-2靜電放電發生器專門針對LED靜電敏感等級判定要求及特點而設計，采用機器模式（MM）及人體模式（HBM）靜電放電試驗，靜電放電電壓最高可達30KV；LED電壓、電流測量準確度可達0.2%；LED正向電壓分辨率1mV；反向漏電流分辨率0.01μA。對于LED照明產品而言，其整體的靜電放電抗擾度測試須按照GB/T 17626.2/IEC61000-4-2進行。接觸放電是首選的測試方法，對LED照明產品機殼上每個可觸及的金屬部件（不包括接線端）進行20次連續放電，正負極性各10次。在無法進行接觸放電的部位可使用空氣放電。間接放電應根據GB/T17626.2的規定施加于水平或垂直耦合板上。為確保測試結果的重復性和一致性，靜電放電試驗必須按照GB/T17626.2第7章節內容規范布置。ESD61000-2靜電放電發生器校準數據如下：

校準數據：