圖2：BLE DUT的典型誤包率(PER)曲線。
圖 2 所示為BLE設備的傳統PER曲線。PER曲線對曲線50%點處的射頻電平變化最為敏感，因此快速PER算法會搜索此50%點。在射頻電平變動期間，大多數的數據包在接近50%點的射頻電平下發送；由于算法在此50%區域上收斂，因此，射頻電平步長也會調整為更小值。這種DUT接收機靈敏度測量方法具有很好的準確和可重復性，并且需要的數據包數量很少，與在一系列不同射頻電平下使用大量數據包的傳統蠻力PER掃描方法相比，所需數據包數不足其 5%。
總結
射頻設計人員需要使用最終設計來驗證可交付產品的性能，而不能僅僅依賴于板級測量，板級測量測得的射頻性能可能與成品的真實情況存在很大偏差。在制造過程中，測試工程師通常無法使用板級射頻和數字連接，因此他們需要使用無線式的快捷測試方法來獲得準確且可重復的結果。 OTA BLE測試解決方案可以幫助技術人員有效解決在測量中的這些關鍵挑戰。借助這些系統，工程師可以構建更好的設計，同時制造商也可以使用參數化數據來驗證制造質量。 對于BLE設備而言，一旦無法獲得良好的無線通信，設備將無法正常運轉，因此無線性能顯得至關重要。如今，這些BLE OTA測試解決方案將有助于相關人員設計出更優秀的產品，同時幫助制造商制造出符合要求的產品。
