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NI 5G新空口測試布局射頻芯片測試方案


時間:2018-08-01 編輯:夏禪
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“新的行業往往帶來新的需求,這可能是前一個行業里從未遇到的挑戰,這是NI觀察到的重要變化,而以軟件為中心的平臺化方法則是解決這些挑戰的渠道?!?/span>Luke Schreier最后說道,“ICT產業的融合是大勢所趨,因此測試、測量技術的“跨界”也成為了必選項。NI擁有廣泛的測試解決方案與合作生態,不僅‘跨越’實驗室驗證到量產測試,更積極融入全行業的‘跨界’測試,致力于提供靈活的測試技術,全力加速ICT產業的創新!”


關鍵詞:NI 5G 芯片 測試    瀏覽量:7099

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