（2）測試步驟

1）將基站配置為TM1.1狀態，輸出功率為20 W=43 dBm；

2）R&S頻譜儀FSW重置，設置MEASàSPURIOUS EMISSIONàSWEEP LISTàEDIT SWEEP LIST；

3）設置RMS方式；

4）頻譜儀設置頻點，以E UTRA band39為例，頻段為1 880 MHz—1920 MHz，結果如圖5所示；

5）設置RBW=100 kHz，VBW=300 kHz；

6）設置Sweep Time，Detect Mode進行測試。

其他測試雜散發射測試的基站類型只需重復上述步驟即可，最后的測試結果如表3所示：

圖5    雜散發射測試結果

表3    TD-LTE Band40共址雜散發射測試結果

（3）測試結果分析

根據移動測試標準3GPP TS 36.104以Band40為例，基于傳統的共址雜散測試方案，探討了一種新型的共址雜散測試方案，采用了雙工器和低噪放相結合的方法。在此方案中，雙工器的主要作用是將載波信號和雜散發射區分開來，解決頻譜儀的動態范圍不足的問題。低噪放的主要作用是提高雜散發射電平，解決了頻譜儀底噪過高的問題。通過解決以上兩個關鍵問題，實現了測試結果的準確性，從表3的測試結果可以看出，在測試帶寬100 kHz的條件下共址雜散發射的結果優于-102 dBm，滿足測試要求。系統達到設計目標，完成了雜散發射的測試任務。

3   結束語

本文探討了一種新型的共址雜散測試方案，改進了頻譜儀動態范圍有限和底噪過高的問題，最后的測試結果符合3GPP測試標準。同時通過集成與Labview相結合，可實現雜散發射的自動化測量，在實際應用中前景廣闊。

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