華儀電子（EEC）提供真實(shí)負(fù)電壓給太陽光電廠商的PID解決方案。太陽能模塊制造為當(dāng)今成長最快的產(chǎn)業(yè)之一，根據(jù)CleanTechnica的報(bào)導(dǎo)指出，太陽能裝置安裝的數(shù)量將會于2018年創(chuàng)紀(jì)錄。在這蓬勃發(fā)展的產(chǎn)業(yè)環(huán)境下，能精準(zhǔn)且安心地進(jìn)行太陽能模塊測試的需求亦隨之增加，對于制造商而言尤其重要。

什么是PID？

PID（Potential Induced Degradation）Test為電勢誘發(fā)衰減測試，也稱之為系統(tǒng)電壓耐受測試（System Voltage Durability Test）。是電池組件的封裝材料和其上表面及下表面的材料，電池片與其接地金屬邊框之間的高電壓作用下出現(xiàn)離子遷移，而造成組件性能衰減的現(xiàn)象。PID現(xiàn)象會導(dǎo)致太陽能模塊在幾年之內(nèi)即損失40%的產(chǎn)能。下圖為2年后可利用的Filed。下表為組件PID效應(yīng)測試前后的參數(shù)及I-V曲線對比，通過對比明顯可以看出PID效應(yīng)對太陽能電池組件的輸出功率影響巨大，是光伏電站發(fā)電量的“恐怖殺手”。

通過光伏電池組件廠商和研究機(jī)構(gòu)的數(shù)據(jù)表明，PID效應(yīng)與組件構(gòu)成、封裝材料、所處環(huán)境溫度、濕度和電壓有著緊密的聯(lián)系。太陽能電池組件由玻璃+EVA+電池片+EVA+TPT+邊框構(gòu)成，組成圖如下所示。在負(fù)偏壓的作用下，漏電流通路形成，漏電流由電池片→EVA→玻璃表面→邊框→支架，最終流向大地。 

華儀電子（EEC）的真實(shí)負(fù)電壓技術(shù)，提供給太陽光電廠商的最優(yōu)PID解決方案

目前有兩種能表現(xiàn)負(fù)電壓測試的方法--反向電壓以及真實(shí)負(fù)電壓。兩種方法最主要的差別在于反向電壓為反向連接正常使用的接點(diǎn)。由于電位差異，反向電壓的連接方式會持續(xù)輸出正電荷至被測物（DUT） 外殼，若操作人員誤觸，將會有電擊的風(fēng)險(xiǎn)。華儀電子的真實(shí)負(fù)電壓測試器，使被測物帶真實(shí)負(fù)電壓，外殼為零電位，使用者可安全觸碰被測物。

華儀EPV-540四合一太陽能專用安規(guī)分析儀

PID的測試為特定的溫度與濕度環(huán)境下，連接太陽能模塊至1,000伏特的負(fù)電壓。一般測試條件包括在溫度85? c、相對濕度85%的環(huán)境下以功率衰減不超過5%為標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)作超過96小時。華儀電子（EEC）為響應(yīng)產(chǎn)業(yè)界對更安全可靠的PID測試需求，推出最高可輸出2,000Vdc真實(shí)負(fù)電壓的EPV-500系列太陽能專用全功能安規(guī)分析儀。由于當(dāng)前安規(guī)要求PID測試必須在使用負(fù)電壓作為最貼近現(xiàn)實(shí)的模擬條件底下進(jìn)行，在缺乏負(fù)電壓輸出測試器的情況下，制造商必須反向連接輸出電壓至被測物。此種測試方式將會導(dǎo)致被測物外殼帶正電壓，使操作員暴露在遭受電擊的風(fēng)險(xiǎn)之下。EPV-540分析儀的真實(shí)負(fù)電壓輸出除了可避開操作時面臨的風(fēng)險(xiǎn)，內(nèi)建的20毫安PID高電流輸出亦可同時測試多個太陽能板。