摘要

示波器和頻譜儀都是電子測試測量中必不可少的測試設備，分別用于觀察信號的時域波形和頻譜。時域波形是信號最原始的信息，而頻譜的引入主要是為了便于分析信號，比如諧波和雜散的測試，從時域上很難觀察到，但是從頻域就可以非常明了的區分開。

示波器除了具有采集信號的基本功能，還可以對信號進行 FFT 變換得到頻譜，從而兼具頻譜分析功能。幾乎所有的中高端示波器均支持 FFT 頻譜分析。本文將要介紹的頻譜分析功能——Spectrum   View，是一款功能強大的頻譜分析工具，它的引入開啟了全新的時頻域信號分析。

結合了 TEK049  ASIC 創新平臺及  TEK061 低噪聲前端放大芯片的頻譜模式  -- Spectrum  View 是獲得高動態、低噪底的強有力保證。

圖 1. TEK049 平臺和超低噪聲前端 TEK061

Spectrum View 特性一覽

從實現方法上講，Spectrum  View 也是采用 FFT，但并不是直接處理采集的樣點，而是先通過數字下變頻(DDC 技術 ) 得到 IQ 數據，然后經過 FFT 得到信號頻譜。這也是相對于傳統 FFT 的一大特色。與原始采集信號相比，IQ 信號攜帶的頻率要低很多，對  IQ 數據重采樣無需太高采樣率，大大降低了數據量，提高了處理速度。

無論與頻譜儀比較，還是與示波器傳統的  FFT 方法相比，Spectrum View 都具有自己的特色：

﹒Spectrum View 使得時、頻域捕獲時間相互獨立，當設置較小的  RBW 時依然可以保證示波器的處理速度。傳統 FFT 測試需要通過調整水平時基來改變RBW，在要求 RBW 很小的測試場景，需要增大水平時基，嚴重影響了示波器處理速度。

﹒Spectrum View 具有標準頻譜儀的操作設置，如圖2 所示，具有更友好的交互界面，可以直接設置中心頻率、Span、RBW 及時域窗口的類型。

﹒Spectrum View 支持豐富的探測方式，且能夠測試極低頻率信號頻譜，是普通頻譜儀所不能及的；

﹒支持多通道時、頻域聯合分析，而且支持觸發捕獲， 使其可以分析瞬態或者間歇性信號的頻譜；

﹒支持多種時間窗類型，可以根據待測信號的特性進行選擇，以保證測試結果的精確性；

﹒支持峰值自動搜索功能，可以設定峰值搜索閾值，可顯示多達 11 個 Peak Marker；

﹒支持  Normal、Max.   Hold、Min.   Hold  以 及 Average 等四種跡線顯示模式；

﹒當顯示多個通道的頻譜時，既可以“堆棧 (Stacked) ”顯示，也可以“重疊 (Overlay) ”顯示；

﹒所有通道具有相同的    Span、RBW、FFT Window 及 Spectrum Time，但中心頻率可以獨立設定。

圖 2. Spectrum View 操作界面

時頻域并行分析

圖 3 給出了信號采集和處理架構示意圖，模擬信號經過ADC轉換為數字信號后，時域和頻域是并行處理的，從而可以獨立設置時域和頻域捕獲時間。SpectrumView 支持滑動 Spectrum  Time 的位置，對不同時段的信號作頻譜測試，這使得對信號進行時頻域聯動測試成為可能。

圖 3.  信號采集和分析架構示意圖

作為示例，圖 4 給出了一個跳頻信號分析結果，同時給出了時域波形、頻譜及跳頻序列的結果。圖中紅色標記處為 Spectrum  Time，即用于 FFT 分析的時間，其位置是可以移動的，測試的頻譜就是當前位置對應的頻譜。拖動 Spectrum  Time 的位置，可以分別對不同的頻點進行觀測，當前觀測的是頻率切換過程中的頻譜變化。