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虹科測試測量方案:萬片電容老化失效測試系統


  來源: 廣州虹科電子 時間:2020-12-15 編輯:清風
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系統介紹


該系統主要用于電容老化測試,通過給電容施加電壓,同時同時施加高溫和高濕的環境,來加速電容的老化,測試電容的可靠性。系統采用模塊化設計,支持通道擴展,并且針對每一個電流通道都單獨實現監測和控制斷開的功能,保證系統在其中某一個電容失效(短路)的時候不影響其他的通道。系統適合進行大規模的測試,一次的測試容量可達幾萬片,因此采用了多電源供電的方式,可選的電源擴展規模,能支持多路電源,即在一次測試中可以配置不同的通道供電電壓不同,從而實現了同一次長時間加熱加濕的過程中測試多種規格的電容。極大提升測試效率。


虹科-萬片電容老化失效測試系統


主要功能


1. 系統主要用于電容的老化測試

2. 系統提供高低溫和濕度環境。

3. 系統支持一次測試中提供多組可調電壓值,且每一路電壓可以程控輸入到任意一組電容上。

4. 系統可以實現對每一路的電流進行監控,當電容失效電流超限時可報警或者自動斷開該路,不影響其他路的測試。

5. 電流監控可以自定義閾值。

6. 系統配備LED面板,試試顯示每一路的失效情況。

7. 系統預留TCP通訊接口,可以實現通過TCP遠程控制和獲取測試數據。

8. 系統可以自動化測試并且生成測試報告。

9. 系統配備高阻儀,可以檢測檢測每一路的電容對應的阻值。

10. 測試通道可擴展,能達到一次2000+通道和四萬片以上電容的老化失效測試,極大提升測試效率。


系統組成


為了達到靈活的電源配置,我們采用了基于LXI的大規模矩陣,可以實現電源和測試設備到電容組的任意路由,同時采用了虹科電流監控模塊,可以同時監測上千個通路的電流,并且實現閾值的自定義和自動切斷NG短路的被測件,保證系統在有短路的情況下仍然可以正常運行測試。


核心設備


1、基于LXI總線的大規模矩陣 :利用矩陣實現電源和高阻儀的信號路由

2、虹科電流監控模塊:實時監控每一路的電流,擁有自定義閾值報警和可配置的超過閾值自動切斷的功能

3、可定制的測試軟件:具備了通訊,自動化測試,報表生成,測試管理,人機接口等功能


關于虹科測試測量


虹科是一家在測試測量行業經驗超過10年的高科技公司,虹科與世界知名的測量行業巨頭公司Marvin Test以及Pickering Interface合作多年,提供領域內頂尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平臺的多種功能模塊,以及自動化測試軟件平臺和測試系統。事業部所有成員都受過國內外專業培訓,并獲得專業資格認證,所有工程師平均5年+技術經驗和水平一致贏得客戶極好口碑。我們積極參與行業協會的工作,為推廣先進技術的普及做出了重要貢獻。至今,虹科已經為全國用戶提供了100+不同的解決方案和項目,并且獲得了行業內用戶極好口碑。


關鍵詞:虹科 測試測量 解決方案 電容老化失效測試    瀏覽量:27779

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