三、AVG線圖的應(yīng)用
1.通用AVG線圖的應(yīng)用
AVG曲線描述了距離-增益量-缺陷尺寸三者之間的關(guān)系，它能方便地用來進(jìn)行缺陷當(dāng)量的計(jì)算，所以它是一種主要的缺陷定量方法。相對(duì)缺陷距離A，是以探頭近場長度N為單位來衡量的反射體距離，即A=N/S。通用AVG線圖中以A作為橫坐標(biāo)，并用常用對(duì)數(shù)刻度。相對(duì)缺陷尺寸G，是以探頭晶片直徑D為單位來衡量的反射體直徑，即G=Φ/D。通用AVG線圖中對(duì)應(yīng)一個(gè)G就有一條相應(yīng)的曲線，相鄰G值之間的變化也是常用對(duì)數(shù)規(guī)律。波幅增益量V(dB)表示反射聲壓相對(duì)于起始聲壓的dB值。通用AVG線圖中以V(dB)作為縱坐標(biāo)，采用十進(jìn)制常用坐標(biāo)。由圖4可見，在A<1，即近聲場內(nèi)，難以據(jù)超聲反射幅度判斷缺陷當(dāng)量，而在A>1，即遠(yuǎn)聲場，超聲回波幅度隨距離單調(diào)下降。
1.通用AVG線圖的應(yīng)用
AVG曲線描述了距離-增益量-缺陷尺寸三者之間的關(guān)系，它能方便地用來進(jìn)行缺陷當(dāng)量的計(jì)算，所以它是一種主要的缺陷定量方法。相對(duì)缺陷距離A，是以探頭近場長度N為單位來衡量的反射體距離，即A=N/S。通用AVG線圖中以A作為橫坐標(biāo)，并用常用對(duì)數(shù)刻度。相對(duì)缺陷尺寸G，是以探頭晶片直徑D為單位來衡量的反射體直徑，即G=Φ/D。通用AVG線圖中對(duì)應(yīng)一個(gè)G就有一條相應(yīng)的曲線，相鄰G值之間的變化也是常用對(duì)數(shù)規(guī)律。波幅增益量V(dB)表示反射聲壓相對(duì)于起始聲壓的dB值。通用AVG線圖中以V(dB)作為縱坐標(biāo)，采用十進(jìn)制常用坐標(biāo)。由圖4可見，在A<1，即近聲場內(nèi)，難以據(jù)超聲反射幅度判斷缺陷當(dāng)量，而在A>1，即遠(yuǎn)聲場，超聲回波幅度隨距離單調(diào)下降。
