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技術文章 | VNA窗口和門控功能在PCB阻抗測量中的應用


  來源: 安立通訊科技Anritsu 時間:2023-02-10 編輯:清風
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如前所述,窗口可能會對有效分辨率產生不利影響。為了獲取最佳分辨率,可以在頻域中使用矩形窗。分辨率越高,上升時間越快。這樣做的代價是會有較大的旁瓣,從而產生較大的振鈴。當辨別DUT上的多個反射點時,旁瓣就是個問題了。在這些情況下,低旁瓣窗口功能是比較理想的。如果DUT在頻帶邊緣具有小的反射,例如測量末端接上負載的空氣線,此時應該選擇使用更高的分辨率。圖4是利用矩形窗和相關旁瓣的測量結果。


圖4.利用矩形窗提高分辨率,凸顯測量結果


VNA中的時域門控功能


測量阻抗的另一個有效工具是門控功能。時域門本質上是時域中的濾波器,用于去除特定的不連續性,例如測試夾具、電纜或連接器。去除任何不連續后,可以對微波電路的性能進行更準確的測量。某些VNA允許用戶輕松控制不同的門控功能及其寬度,以觀察門控頻率響應以及時間門控響應。


由于在測量中排除了不必要的影響,因此消除了頻域響應中的誤差或紋波。就像在窗口中一樣,VNA需要提供門函數選擇,以便用戶可以在分辨率與波紋之間選擇最佳的平衡。


在時域響應中乘以門控窗口函數,并通過離散傅里葉變換將其轉換到頻域,可以更詳細地查看和分析門控頻率響應或阻抗。


總結


在高頻PCB設計中,VNA能夠以高精度和重復性經濟高效地測量阻抗。某些功能,包括窗口功能和時域門控,更是工程師進行詳細設計分析的利器。


作者:Anritsu Company

翻譯:袁彬彬,安立公司高級工程師


關鍵詞:安立 PCB 阻抗測量    瀏覽量:2706

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