較低的信噪比SNR，對(duì)噪聲更敏感

④TX/RX的設(shè)計(jì)更復(fù)雜，成本更高

圖3數(shù)字信號(hào)頻譜分布

數(shù)字信號(hào)的頻譜，無(wú)論是NRZ還是PAM4調(diào)制，或是PRBS的任意編碼形式，其頻譜都呈sinc函數(shù)型（如圖3），因此我們很難在頻域上解析信號(hào)中的信息，因此如果想去解析傳輸信號(hào)中包含的信息，我們通常是在時(shí)域上進(jìn)行解析的。

而測(cè)試眼圖或者誤碼率就是在時(shí)域上評(píng)判系統(tǒng)的優(yōu)劣，如果眼圖和誤碼率都能滿足指標(biāo)要求，那說(shuō)明系統(tǒng)的功能是優(yōu)異的，該系統(tǒng)可以無(wú)失真的傳輸信號(hào)，而反之，如果測(cè)試發(fā)現(xiàn)眼圖或是誤碼率都不能滿足指標(biāo)要求，眼睛睜不開，或者誤碼率很高，那么我們就要考慮是否是組成系統(tǒng)的器件的性能出現(xiàn)了問(wèn)題。

器件性能對(duì)信號(hào)傳輸最主要的影響就包括器件帶寬的影響，因此，當(dāng)單路速率比較高時(shí)，我們通常都會(huì)去測(cè)器件的頻域性能，即頻率響應(yīng)。

如圖3所示的時(shí)域信號(hào)，轉(zhuǎn)換到頻域上我們可以看到，是一個(gè)sinc函數(shù)的包絡(luò)，該頻譜的主要頻譜能量都分布在sinc函數(shù)的第一過(guò)零點(diǎn)以內(nèi)，第一過(guò)零點(diǎn)是由比特率來(lái)決定。從頻譜分布來(lái)看，可知比特率越高，上升時(shí)間越小，信號(hào)所占用的頻譜帶寬就越大。

因此，當(dāng)我們傳輸速率比較高的時(shí)候，就需要保證器件的帶寬足夠大，這樣才能夠滿足無(wú)失真?zhèn)鬏敶髱捫盘?hào)的條件。而光波器件分析儀LCA的主要功能就是測(cè)試光電器件的頻域特性的。

時(shí)域測(cè)試與頻域測(cè)試并不是完全獨(dú)立的，他們是有一定關(guān)系的。

時(shí)域測(cè)試時(shí)，在整個(gè)測(cè)試鏈路中傳輸?shù)男盘?hào)是數(shù)字信號(hào)，從頻域上看所有的所有頻率分量雖然幅度各不相同，但它們是同時(shí)存在于測(cè)試鏈路中的，如圖3所示。

而頻域測(cè)試，每一時(shí)刻，鏈路中只存在一個(gè)單獨(dú)的頻率分量，每一時(shí)刻都測(cè)量一個(gè)單獨(dú)的頻率分量下的器件性能，信號(hào)頻率隨著時(shí)間掃描，從測(cè)試的起始頻率掃描到終止頻率，最終獲得整個(gè)測(cè)試帶寬的頻率響應(yīng)。

保證器件的帶寬是足夠傳輸高速信號(hào)的，這一步叫做器件的性能測(cè)試。

性能測(cè)試通關(guān)之后才會(huì)進(jìn)行封裝，封裝后還要進(jìn)行時(shí)域的測(cè)試，這一步通常叫做功能測(cè)試。

因此對(duì)于一個(gè)合格的器件的生產(chǎn)，尤其是高速光通信器件，頻域和時(shí)域的測(cè)試都是必不可少的。如圖4，就是一個(gè)光模塊的生命周期，以及他們這個(gè)周期中需要經(jīng)歷的測(cè)試，在光模塊出廠之前，需要分別經(jīng)歷晶元的生產(chǎn)，電路集成，晶元測(cè)試，切割，校準(zhǔn)，封裝，功能測(cè)試等流程，其中晶元測(cè)試我們一般會(huì)測(cè)器件的波長(zhǎng)域的性能以及頻域的性能（光電元器件分析儀完成），在封裝后，要進(jìn)行功能性測(cè)試（時(shí)域測(cè)試，眼圖誤碼等）。

圖4光模塊的生命周期