航天型號在軌運(yùn)行時(shí)間一般可分為長期、中期、短期三類，一般情況下要求器件具有抗總劑量輻射的能力如表所示。但空間輻射環(huán)境在不同的年份、不同地區(qū)有很大的差別。因此選擇器件的抗總劑量輻射的固有能力與實(shí)際承受的輻射總劑量應(yīng)有一定的裕度，兩者之比成為輻射設(shè)計(jì)裕度(RDM)，RDM在2至11之間，根據(jù)具體的航天型號總體要求(風(fēng)險(xiǎn)、成本、進(jìn)度、難度等)而定。

按上表選擇長期運(yùn)行抗總劑量輻射的半導(dǎo)體器件，其抗輻射總劑量的能力應(yīng)大于100krad(Si)，當(dāng)RDM取2時(shí)，則應(yīng)選RHA為F等級的器件。當(dāng)所選器件無RHA要求時(shí)，應(yīng)進(jìn)行輻射總劑量評估試驗(yàn)(RET)以摸清器件的抗總劑量輻射的能力。當(dāng)選擇不到抗總劑量輻射能力的器件時(shí)，可參照資料的要求，對器件進(jìn)行屏蔽，以保證其在電離總劑量輻射環(huán)境中穩(wěn)定可靠地工作。

器件抗單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)的能力以現(xiàn)行能量傳遞(LET)表示，當(dāng)器件發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)時(shí)的最小LET成為現(xiàn)行能量傳遞閥值LETTh(及SEU敏感度)，LET及LETTh的量綱均為MEV·cm2/Mg。器件SEU的敏感度主要取決于器件敏感單元的集合尺寸、版圖結(jié)構(gòu)和工藝，因此對器件SEU敏感度的評估可以利用已有的同一版圖結(jié)構(gòu)和同一工藝器件的試驗(yàn)數(shù)據(jù)或分析結(jié)果。