隨著高速光通信的快速發(fā)展，光的偏振特性越來(lái)越受到重視，尤其在密集波分復(fù)用中使用的無(wú)源光器件都具有偏振相關(guān)損耗，傳統(tǒng)的插入損耗測(cè)試方法很難準(zhǔn)確表征器件的損耗；另外，在分布式光纖傳感中，偏振擾動(dòng)會(huì)將相干后的待測(cè)信號(hào)淹沒(méi)。為了有效解決以上問(wèn)題，電科思儀實(shí)現(xiàn)光擾偏技術(shù)突破，推出全新Ceyear 85200B光擾偏器，該產(chǎn)品具有擾偏速度快、擾偏效果好、成本低等多種優(yōu)點(diǎn)。典型指標(biāo)包括：擾偏速率＞1.2MHz；擾偏后偏振度＜5%；產(chǎn)品可工作在O波段和C波段。

圖 1 Ceyear 85200B光擾偏器實(shí)物圖

1、光擾偏器的工作原理

用較高的速度不斷改變輸入光的偏振態(tài)，在一段時(shí)間內(nèi)，偏振態(tài)均勻覆蓋整個(gè)邦加球，在該時(shí)間窗口平均后，作用效果等效為非偏振光，進(jìn)而消除偏振抖動(dòng)對(duì)測(cè)試的影響。改變偏振態(tài)的方法一般基于彈光效應(yīng)或電光效應(yīng)，Ceyear 85200B光擾偏器基于前者，采用全光纖方案，具有低插入損耗和低偏振相關(guān)損耗優(yōu)點(diǎn)。

2、光擾偏器的核心指標(biāo)

擾偏后偏振度，表征經(jīng)過(guò)光擾偏器的光在邦加球覆蓋的均勻程度。偏振態(tài)穩(wěn)定的光在邦家球的球面上表示為一個(gè)不動(dòng)的點(diǎn)，該光經(jīng)過(guò)光擾偏器，在短時(shí)間內(nèi)偏振態(tài)布滿整個(gè)球面，偏振態(tài)在邦加球覆蓋的越均勻，說(shuō)明光擾偏器擾偏效果越好，如圖2。

圖 2Ceyear 85200B光擾偏器擾偏效果示意圖

3、在光芯片生產(chǎn)過(guò)程插入損耗測(cè)試應(yīng)用

利用常規(guī)方法測(cè)試硅光芯片的插入損耗，由于芯片固有的偏振相關(guān)損耗，測(cè)試結(jié)果受輸入光偏振態(tài)影響大，重復(fù)性差。使用Ceyear 85200B光擾偏器對(duì)入射光進(jìn)行擾偏后再進(jìn)行測(cè)試，能夠準(zhǔn)確測(cè)得待測(cè)件的平均插入損耗，降低偏振態(tài)變化對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。圖3為該模塊利用本公司Ceyear 9951A光波測(cè)試平臺(tái)，并搭配平臺(tái)可選光源、光開(kāi)關(guān)和光功率計(jì)等模塊，實(shí)現(xiàn)的硅光芯片插入損耗測(cè)試一體化平臺(tái)實(shí)物圖。基于Ceyear 9951A光波測(cè)試平臺(tái)，選配多種可插拔光電測(cè)試模塊，還可實(shí)現(xiàn)多種其余光電測(cè)試方案定制開(kāi)發(fā)。

圖 3光芯片插入損耗測(cè)試平臺(tái)框圖和實(shí)物圖

4、光纖傳感中偏振擾動(dòng)抑制應(yīng)用

在光纖傳感領(lǐng)域，尤其涉及相干光纖傳感領(lǐng)域，傳感系統(tǒng)的偏振擾動(dòng)會(huì)在相干過(guò)程中疊加到信號(hào)中，降低信噪比，甚至將待測(cè)信號(hào)淹沒(méi)。將Ceyear 85200B光擾偏器插入相關(guān)光路中，在一段時(shí)間內(nèi)累加平均，可降低偏振擾動(dòng)對(duì)系統(tǒng)的影響，增強(qiáng)系統(tǒng)抗干擾能力，如圖4為加入光擾偏器前后測(cè)試結(jié)果的對(duì)比。

圖 4光擾偏器在相干光纖傳感領(lǐng)域應(yīng)用效果示意圖