中電儀器已形成自主可控的技術(shù)體系和規(guī)模化發(fā)展的產(chǎn)品體系，手持式、便攜式、臺(tái)式、模塊化儀器和自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)全面發(fā)展，測(cè)試頻率覆蓋射頻、微波毫米波、太赫茲、紅外、紫外，產(chǎn)品品種躋身世界前列，在國(guó)家載人航天、探月、核高基、北斗、寬帶移動(dòng)通信等重大工程中發(fā)揮著重要的測(cè)試保障作用。

中電儀器在自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域，通過(guò)長(zhǎng)期跟蹤國(guó)內(nèi)外先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試技術(shù)和多年的技術(shù)積累，采用國(guó)內(nèi)外先進(jìn)的體系結(jié)構(gòu)，結(jié)合國(guó)內(nèi)裝備的測(cè)試需求，形成了“1類(lèi)核心軟件+四類(lèi)通用測(cè)試平臺(tái)+若干個(gè)實(shí)用化系統(tǒng)”產(chǎn)品體系，包括自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通用測(cè)試平臺(tái)、通用共性測(cè)試平臺(tái)、雷達(dá)測(cè)試平臺(tái)、電磁環(huán)境測(cè)試平臺(tái)和通信與通信與電子對(duì)抗測(cè)試平臺(tái)。

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是電子測(cè)量?jī)x器的重要門(mén)類(lèi)，是指在最小程度的人工參與下，對(duì)各種電子設(shè)備研制、生產(chǎn)、試驗(yàn)、使用與維護(hù)修理全壽命周期的各種定量、定性參數(shù)進(jìn)行分析評(píng)定、故障診斷和故障預(yù)測(cè)的手段和方法的總稱。

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包括自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）和測(cè)試程序集（TPS）兩部分， ATE主要是指用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)的全部硬件和相應(yīng)的操作系統(tǒng)軟件，包括硬件測(cè)試平臺(tái)和軟件測(cè)試平臺(tái)；TPS與被測(cè)對(duì)象及其測(cè)試要求密切相關(guān)，包括測(cè)試程序(TP)、接口適配器(ITA)和測(cè)試程序集文檔(TPSD)三部分。具有儀器的互換性、系統(tǒng)配置的靈活性、TPS的可移植性和互操作能力、良好的可維修性、測(cè)試診斷的有效性等功能特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于航空、航天、艦船、雷達(dá)、通信和武器裝備等國(guó)防和工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域。

一、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通用測(cè)試平臺(tái)

在硬件平臺(tái)方面，中電儀器無(wú)論是機(jī)箱設(shè)計(jì)加工、控制總線選擇，接口適配器設(shè)計(jì)，還是配套儀器資源研制都具有相當(dāng)高技術(shù)水平，不但支持國(guó)內(nèi)外上千種通用臺(tái)式儀器和模塊化儀器，而且還自主研制出構(gòu)成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的GPIB儀器136種、VXI、 cPCI、PXI和LXI接口的模塊化儀器49種，并且每年增加10個(gè)以上新產(chǎn)品。

在軟件平臺(tái)方面，中電儀器開(kāi)發(fā)出了具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)TestCent通用軟件平臺(tái)，該軟件平臺(tái)采用基于“核心層+插件”的結(jié)構(gòu)體系，構(gòu)成核心層的測(cè)試程序開(kāi)發(fā)平臺(tái)和運(yùn)行平臺(tái)能支持當(dāng)前最為通用的各類(lèi)開(kāi)發(fā)工具開(kāi)發(fā)的測(cè)試程序，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試程序運(yùn)行環(huán)境、開(kāi)發(fā)環(huán)境與測(cè)試程序分離。

在通用硬件和軟件平臺(tái)的基礎(chǔ)上，中電儀器針對(duì)構(gòu)成不同軍用電子裝備共性設(shè)備的測(cè)試需求，開(kāi)發(fā)出天線通用測(cè)試平臺(tái)、材料測(cè)試平臺(tái)、微波多功能組件測(cè)試平臺(tái)、雷達(dá)罩通用測(cè)試平臺(tái)、電路板測(cè)試與故障診斷通用平臺(tái)等十幾種共性通用測(cè)試平臺(tái)。另外，針對(duì)具體型號(hào)裝備的測(cè)試需求，中電儀器圍繞電磁環(huán)境監(jiān)測(cè)、雷達(dá)裝備、通信與導(dǎo)航、電子偵察與電子干擾裝備的測(cè)試研制出多種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)并得到成功應(yīng)用。

二、通用共性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)

應(yīng)用Test Center通用自動(dòng)測(cè)試軟件平臺(tái)和完備的硬件平臺(tái)，中電儀器針對(duì)構(gòu)成不同類(lèi)型裝備的共性設(shè)備，如天線、微波多功能組件與模塊、T/R組件、吸波材料、電路板和天線罩等測(cè)試和維修保障需要，分門(mén)別類(lèi)組建通用共性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)，以解決裝備共性設(shè)備在研制、生產(chǎn)和裝備部隊(duì)后維修保障過(guò)程的測(cè)試問(wèn)題，這種基于通用測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)思想符合新一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)體系要求，也是從根本上保證同類(lèi)共性設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)具有標(biāo)準(zhǔn)、統(tǒng)一結(jié)構(gòu)體系和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序集的關(guān)鍵。