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頻譜儀非線性失真和干擾抑制指標解讀及其測量方法


  來源: 射頻微波實驗室 時間:2021-10-18 編輯:清風
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頻譜儀的指標,除了測量不確定度和本底噪聲等關鍵指標,還需關注一些其它重要指標,例如非線性失真雜散和干擾抑制,本文幫助您理解這些指標項目,并且簡述其測量驗證方法。


非線性失真



1dB壓縮點


在衰減器置為0,頻譜儀輸入功率達到飽和的臨界功率值,在此臨界點,頻譜儀的功率測量值比實際輸入小1dB。

測試和評價方法:為確保測量準確度,現代頻譜儀在衰減器置為0時,其量程上限一般不超過0dBm,低于1dB壓縮點,為避免過載,通常在指標手冊中規定采用雙音法,也就是用兩個信號源合路輸入被檢頻譜儀,其中一個提供-30dBm左右的RF信號電平L,另一個頻率RF'與RF間隔大于中頻模擬濾波器帶寬,電平L'初始值等于L;被檢頻譜儀中心頻率RF,較小的SPAN,衰減器置為0;逐步升高L',直到RF電平讀數下降1dB,記錄此時L',即1dB壓縮點。


三階互調截點TOI


在衰減器置為0,頻譜儀輸入兩個頻率信號之間,自身互調失真的指標。

相鄰頻率f1,f2兩個信號,在三階頻率2f1-f2和2f2-f1處產生的互調分量的電平,隨著兩個輸入信號功率上升而提高,互調分量在線性區上升直線的延長線,與f1或f2輸出功率上升直線的延長線交點。

測試和評價方法:用兩個信號源合路輸入被檢頻譜儀,按照指標手冊標注,頻率分別為f1、f2,電平L;頻譜儀衰減器置為0,在三階頻率2f1-f2和2f2-f1處測量電平較大值L3;計算TOI=(L-L3)/2+L


二次諧波截點SHI


在衰減器置為0,頻譜儀輸入信號,自身產生2次諧波指標。

輸入信號的2次諧波分量,隨輸入功率增加的上升直線,與輸出功率上升直線的延長線交點。

測試和評價方法:頻譜儀衰減器置為0,輸入信號頻率為f,電平L,在2次諧波頻率測量電平L2;計算SHI=(L-L2)+L。


通常需要在信號源輸出端加諧波抑制濾波器。


其它雜散


頻譜儀輸入端接匹配負載,頻譜上顯示的尖峰都是雜散。


干擾抑制


鏡像頻率抑制


根據頻譜儀混頻器的工作模式,輸入測試頻率RF、本振頻率LO和中頻IF的計算關系,所謂鏡像頻率就是RF相對于LO的鏡像RF',它們之間的頻率間隔相等。鏡像頻率RF'經過LO和混頻器輸出頻率也等于IF,需要在RF輸入端采用模擬濾波器抑制。


測試和評價方法:在指標手冊標注的鏡像頻率點RF'輸入較高電平的信號L,頻譜儀在RF的的讀數L'與L的電平差,就是鏡像頻率抑制。



中頻抑制


如果輸入頻譜儀中頻IF信號電平L,測量IF以外的任意頻率RF時,讀數L'與L的電平差,就是中頻抑制。


測試和評價方法:按上述方法,用信號源產生對應中頻頻點的信號,輸入被檢頻譜儀,在其它頻率觀察并記錄電平值。


(作者:陳峰)


關鍵詞:頻譜儀 測量方法 非線性失真    瀏覽量:14394

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