"透過 NI PXI 技術為架構的新平臺，我們不僅保有量測的效能與精確度，并降低 3 倍的成本達到 10 倍的半導體檢驗速率。"——Ray Morgan, ON Semiconductor
挑戰:
以低價位解決方案進行精確作業，并可透過軟件與硬件輕松升級，且同時提升新款與舊款半導體產品的檢驗速率。
解決方案:
模塊化的 PXI 架構平臺可使用最新的處理器技術，并以更低的價位提升 10 倍的半導體檢驗速度，以取代昂貴的獨立測試設備。
更新測試系統以滿足業務需求
安森美半導體 (ON Semiconductor) 公司需要低價位的解決方案，以提升新產品的檢驗速率。為了能縮短評估循環時間并降低成本，我們必須開發精確的系統，并可因應將來需要，輕松透過軟件與硬件進行升級。針對舊款的高速與金屬閘 (metal gate) 產品，新系統必須能處理其通道數量，亦要能用于新款的高速電壓準位編譯器。
在半導體技術所有突破時，某些昂貴的獨立測試儀器可能隨之報廢。由于新一代的測試平臺具有足夠彈性，可跟上技術成長的步伐。因此我們要以最低成本取得可升級的效能，并能將之輕松整合至未來的應用。
由于先前系統的量測速率受制于獨立儀器的處理器速度，與完整測試的設定作業，因此其隱性成本即為測試作業所需的時間。即使我們使用最常見的軟件平臺，欲自動化測試作業，但是執行速度仍受限于系統內速度最慢的獨立儀器。
此外，我們必須針對測試系統的各個元件，降低其詳細檢驗所需的成本，所以儀控成本亦成為問題之一。對獨立儀器而言，亦必須提列額外成本以購買儀器可共享的備用元件，如儀器機箱、處理器，與電源供應器，以供不時之需。在仔細計算過后，我們甚至發現：若要以獨立儀器達到模塊化儀器平臺的效能，則必須多花 3 ~ 5 倍的成本。
PXI 測試系統的新設計
我們的平臺可用于測試半導體裝置的 AC 與 DC 參數。在此之前，我們必須使用多組獨立高頻寬示波器，跨 16 個通道執行 AC 參數的檢驗作業。在 PXI 平臺架構下，我們花費 20,000 美金購買 1 組 NI PXI-5154 - 1 GHz 示波器、2 組 NI PXI-2547 - 8x1 多工器，與所需的探針；即取代了 4 組 1GHz 示波器超過 60,000 美金的采購成本。在獲得量測效能與精確度的同時，我們更省下 3 倍的成本。除了節省成本之外，新平臺更可達到先前測試作業的 10 倍速度。
