X射線高靈敏檢測在醫療、安全和工業檢測等領域應用十分廣泛，如應用在X光胸透、CT成像以及機場的X光安全檢查等。X射線通常的探測方法是先利用閃爍體將X光轉化為可見光，再通過常規的硅基可見光探測器探測，這種間接探測的方式一方面效率不夠高，另一方面發光的閃爍體很厚，其成像分辨率受到光學串擾的限制。

在國家重點研發計劃“納米科技”重點專項的支持下，浙江大學楊旸課題組報道了一種具有類似鈣鈦礦結構的半導體材料(NH4)3Bi2I9，這種類鈣鈦礦材料具有很高的X光吸收效率和載流子收集效率，其特有的各向異性層狀結構，有助于實現載流子在信號收集方向上的高效遷移和收集，同時抑制橫向擴散，從而使得成像陣列中的橫向擴散電流被壓制，降低信號間的電學串擾，實現更高分辨率的成像。這些特殊性在以往的X射線探測器中鮮有報道。

基于此材料，課題組制作了具有高靈敏度和低檢測極限的X射線探測器，其探測靈敏度和最低檢測極限大大超過了目前接近商用化的非晶硒直接型X射線探測器。未來，該X射線探測器可能應用于醫療、安防及工業無損檢測設備的X光成像系統中，使得我們在更少的射線輻照量下獲得更清晰的成像照片。

研究成果近期在國際學術期刊Nature photonics上發表。