將異常品置于65℃的烤箱中，并對以下信號進行測試：MCU供電、TXD、CAN差分、CAN模塊供電。未出現(xiàn)異常時，各點波形如圖4?？梢钥吹剑琈CU是3.3V供電，電壓穩(wěn)定在3.2V左右，CAN模塊供電穩(wěn)定在5.07V左右，CAN差分波形與TXD信號對應無異常。
圖4 正常時波形
對異常板卡進行重復上電，CAN總線出現(xiàn)大量錯誤幀，問題復現(xiàn)。異常時，各點波形如圖5，MCU供電電壓、CAN模塊供電電壓同時出現(xiàn)波動，并出現(xiàn)異常位。異常位出現(xiàn)時，MCU供電下降到3.08V，CAN模塊供電上升至5.19V。
圖5 異常時波形
仔細觀察異常位波形，如圖6，發(fā)現(xiàn)TXD變?yōu)楦唠娖綍r，CAN差分電平并未跟隨變化，而當TXD再次出現(xiàn)一個小的噪聲尖峰時，CAN差分電平才變?yōu)殡[性電平。結(jié)合此時MCU供電電壓下降，CAN模塊供電反而上升的情況，初步確定問題是因供電電壓波動，造成TXD高電平無法識別導致。
圖6 異常位波形
2、問題定位
因懷疑TXD電平無法識別，對CAN模塊的TXD高電平閥值電壓值進行測試。不同輸入電壓下，測試數(shù)據(jù)如表3。
表3 異常品TXD高電平閥值電壓
從測試數(shù)據(jù)看出，在不同的環(huán)境溫度下，TXD高電平閥值電壓變化均不大。4.75V供電時，閥值約2.91V；5V供電時，閥值約3.06V；5.25V供電時，閥值約3.2V。
