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5G IC測試系統——TS-960e-5G

自動化5G芯片測試設備 具有量產的測試速度


  來源: 虹科電子 時間:2019-12-02 編輯:儀商清風
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隨著5G的不斷部署,基站,小型蜂窩,手機和工業設備將需要符合標準的IC設備。而這些部件納入供應鏈,意味著IC制造商需要針對與5G芯片的自動化測試系統。自動化測試系統(ATE)將需要對在28 GHz和39 GHz以及6 GHz以下頻段運行的無線電,波束形成器,放大器和其他部件進行測試;這就要求ATE中需要包含向量網絡分析儀(VNA)和數字I / O等設備。在5G測試設備中,我們注意到越來越多的ATE公司正在進入5G大市場中。Marvin Test Solutions與Rohde&Schwarz合作開發5G IC的ATE系統,也將參與這場競爭之中。


圖1:TS-960e-5G外觀圖


產 品 介 紹

1、 硬件部分


TS-960e-5G mmWave測試系統可提供高達50 GHz的測試性能。該系統將實驗室級RF性能直接集成到mmWave被測設備(DUT)中,用于mmWave設備的多網站生產測試或設備表征。此外,MTS還提供全套數字和參數測試以及SPI / I2C接口支持,以便在功能上控制/監控被測設備。


主要組件(如圖2所示):

 Rohde & Schwarz ZNBT40 24通道,40 GHz VNA
 Marvin Test GX7205 PXI機箱,為每個DUT提供一個專用32通道,100/125 MHz DIO卡,以及一個GX3104源測量單元(SMU)
 Rohde & Schwarz OSP320,增加了4個1×6開關,用于互調測試
 Marvin測試頭具有產品接口,包括Seiko Epson 8040 Quad Site封裝設備處理器的接口



圖2:TS-960e-5G內部結構圖


1) 開短路以及DC/AC測試

基本版的ATE中包含64個動態數字I / O信道,64個靜態數字I / O信道,一個用戶可程序設計電源,一個系統自檢和夾具。動態數字I/O—GX5296,每引腳PMU功能,可以快速實現開短路以及DC測試;125MHz的數據速率有助于實現AC測試,結合GtDIO6xEasy軟件,可以實現pattern文件的編寫以及導入,用于驗證基本的功能性測試。靜態數字I/O——GX5733可以很好的實現切換功能以及環境變量控制;


升級版ATE可以擴展為256個動態數字信道,128個靜態數字信道,極大的豐富了系統資源,有助于更大規模的量產測試。



圖3:TS-960e-5G數字子系統


2) 射頻功能測試部分


ATE中使用Rohde&Schwarz的ZNBT40是一款多端口向量網絡分析儀,工作頻率范圍為9 kHz至40 GHz,最多可提供24個通道。該儀器可以同時測試多個DUT或測量一個DUT,最多24個通道。即使在具有大量埠的情況下,它也可以在3.5 ms的短測量時間完成201點的掃描。


ZNBT40具有高達135 dB的寬動態范圍,高輸出功率水平和具有高功率處理能力的輸入。該儀器主要用于開發和生產有源和無源多端口組件,如GPS,WLAN,藍牙和多頻段移動電話的前端模塊,且能夠確定24通道DUT的所有576個S參數。


該網絡分析儀沒有顯示功能,可以很好的節約空間——這對于自動化產品十分有理。它可以通過外部顯示器,鼠標和鍵盤或外部觸摸屏進行控制。



圖4:TS-960e-5G射頻測試子系統


3) Handler界面
對于需要與自動化處理器集成的生產測試應用,TS-960e-5G配備了一個inTEST操縱器,可以提供測試頭的精確定位以及與自動探測器和設備處理器接口。TS-960e-5G的設備接口板(DIB)/接收器接口幾乎兼容任何設備處理器。


圖5:TS-960e-5G界面板


對于量產測試,系統配置EPSON NS-8040設備,該產品具有高穩定性,易操作維護等特點,可以進行多種封轉形式芯片的測試工作。


圖6:EPSON NS-8040


2、 軟件部分


ATE中軟件的執行環境為ATEasy,可以輕松完成測試程序的編寫和執行管理工作;同時配有ICEasy半導體測試軟件包;DIOEasy-Fit:pattern轉換和導入工具;GtDio6xEasy:pattern編輯工具;5G VNA,VSA測試套件:可以進行頻譜,時序顯示及統計,數字調制分析等工作。


ATEasy支持Windows的多種APIs,包括Labview,CVI,Microsoft和Borland C/C++,Microsoft Visual Basic,以及Borland Delphi。



圖7:測試程序集


總  結

關鍵詞:5G 芯片 測試設備    瀏覽量:1882

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