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領邦儀器:太陽能硅片自動分檢系統解決方案


  來源: 儀器儀表商情網 時間:2015-07-30 作者:
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太陽能硅片自動分檢系統根據客戶的實際需求,整合上下游企業的相關需求,為太陽能硅片生產企業提供了完整的檢測解決方案,降低了硅片檢測成本,為企業創造價值。

 【產品描述】
      該系統可對太陽能硅片的電性能、幾何尺寸、外觀缺陷進行全自動分揀,硅片生產企業應用此系統,替代以往人工檢測方式,大大提高了檢測效率,充分滿足了硅片使用廠家的質量要求,同時降低了該企業和下游企業的整體質控成本,提高了客戶在行業的競爭力。
 


      產品外觀

        硅片分檢

【基本原理】
      系統整體采用非接觸測量方式,通過在流水線中設置五個工位,分別實現硅片各個參數的檢測。其中,電阻率、厚度、TTVP/N型號、Bow/Warp采用電渦流法和電容法實現非接觸自動檢測;輪廓尺寸采用機器視覺技術實現;隱裂、孔洞缺陷通過紅外視覺技術實現;表面臟污缺陷通過機器視覺技術并輔以特殊設計光源實現;線痕缺陷通過光針掃描技術實現。

【規格指標】
       (1)能夠適應三種規格單晶硅片檢測需求,包括6吋(邊長125mm×125mm,對角線150mm)、6.5吋(邊長125mm×125mm,對角線165mm)、8吋(邊長156mm×156mm,對角線200mm);

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