圖2:不同溫度下黑體的光譜輻射發(fā)射率
總之,SLS使您能夠處理目標(biāo)在較寬溫度范圍內(nèi)快速升溫的富有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用,如燃燒研究應(yīng)用。
然而,在長(zhǎng)波紅外波段運(yùn)行不是唯一因素。如果研究長(zhǎng)波紅外碲鎘汞(MCT)探測(cè)器,我們會(huì)發(fā)現(xiàn)它們的溫度范圍也有限,類(lèi)似于中波紅外InSb探測(cè)器。你會(huì)注意到,長(zhǎng)波紅外MCT熱像儀每次積分時(shí)間具有較短的單個(gè)溫度范圍,以及在安裝減光鏡削減信號(hào)之前能夠測(cè)量的溫度限制(見(jiàn)表3)。
表3 長(zhǎng)波紅外碲鎘汞(MCT)探測(cè)器儀性能指標(biāo)
長(zhǎng)波紅外SLS熱像儀:低成本,高性能
與其它長(zhǎng)波紅外制冷型熱像儀相比,長(zhǎng)波紅外SLS熱像儀一項(xiàng)最出色的特性是能通過(guò)冷卻顯著提升均勻性和穩(wěn)定性,尤其是與長(zhǎng)波紅外MCT熱像儀相比。長(zhǎng)波紅外MCT探測(cè)器通常具有較差的均勻性和穩(wěn)定性。因此,每當(dāng)用戶(hù)打開(kāi)長(zhǎng)波紅外MCT熱像儀,上一次執(zhí)行的均勻性校正都需要更新(見(jiàn)圖3)。
圖3:?jiǎn)?dòng)時(shí)的MCT熱圖像
這為基于現(xiàn)場(chǎng)的應(yīng)用帶來(lái)一些問(wèn)題,由于環(huán)境狀況,這不利于需要更新增益、補(bǔ)償錯(cuò)誤像素映射設(shè)備。這些應(yīng)用可能包括當(dāng)熱像儀位于試驗(yàn)室中對(duì)其進(jìn)行遠(yuǎn)程控制,或在政府試驗(yàn)場(chǎng)爆破區(qū)之外對(duì)其進(jìn)行控制。相比之下,長(zhǎng)波紅外SLS能像中波紅外InSb那樣運(yùn)行,因?yàn)橛脩?hù)只需打開(kāi)熱像儀就可以開(kāi)始測(cè)試(見(jiàn)圖4)。在實(shí)驗(yàn)室中完成的均勻性校正,除了可能利用熱像儀內(nèi)的內(nèi)部NUC標(biāo)記進(jìn)行一點(diǎn)式補(bǔ)償更新外,無(wú)需額外圖像均勻性更新,便可在現(xiàn)場(chǎng)良好運(yùn)行。NUC在長(zhǎng)期多次冷卻后仍保持正常。本文測(cè)試的熱像儀自一年多前首次現(xiàn)場(chǎng)使用以來(lái)無(wú)需新的NUC。
圖4:?jiǎn)?dòng)時(shí)的SLS熱圖像
雖然SLS熱像儀的價(jià)格高于中波紅外InSb熱像儀,但它們比性能相當(dāng)?shù)拈L(zhǎng)波紅外MCT熱像儀便宜40%。因此,如果您的應(yīng)用需要更短的積分時(shí)間,更寬的溫度范圍或只有制冷型長(zhǎng)波紅外探測(cè)器才能提供的光譜靈敏度,SLS探測(cè)器比現(xiàn)行的制冷型長(zhǎng)波紅外MCT探測(cè)器具有明顯的成本和均勻性?xún)?yōu)勢(shì)。
綜上所述,SLS長(zhǎng)波紅外探測(cè)器材料是一種極具吸引力的高性?xún)r(jià)比材料,與中波紅外InSb和長(zhǎng)波紅外MCT材料相比具有更短的積分時(shí)間和更寬的溫度量程;長(zhǎng)波紅外SLS熱像儀擁有比現(xiàn)行長(zhǎng)波紅外MCT熱像儀更優(yōu)異的均勻性和穩(wěn)定性以及更實(shí)惠的價(jià)格。如果應(yīng)用對(duì)性?xún)r(jià)比有特定要求時(shí),長(zhǎng)波紅外SLS熱像儀將是您工具箱的理想之選。