此外，隨著測量和測試要求的變化，系統設置、布線和配置也需要隨之更改。這會占用大量時間，而且無法提高測量的可重復性。PXI模塊化儀器的最大優勢在于，我們可以在同一設備上進行一次又一次的測量。我們設計了一個可編程的PXI負載板，通過一個總線系統將引腳連接到PXI通道。我們可以使用負載板來同時分析多達四個IC的特性，具體取決于IC的引腳數。我們還可以通過自動化程序，自動執行某個溫度范圍內各種測試條件下絕大多數的特性分析測試。效率明顯提高了。
邁來芯通過其MLX81108環境光模塊實現創新
統計分析方面的改進
使用以前的臺式系統，我們只能測試數量非常有限的樣品（最多10個）。而使用基于PXI的特性分析測試系統，雖然我們花費了大約相同的時間來開發LabVIEW例程，但是之后我們可以對數十個樣品進行特性分析，對數百個零件進行試生產測試。
盡管開發時間差不多，但開發完成之后，就可以通過自動化來測試更多樣品。這有助于提高統計分析的質量，從而提供更高的準確性。此外，得益于可復用的標準化平臺，下一代IC的設計和開發時間也將大大減少。
結論
我們現在仍在學習和摸索中。現在使用新舊平臺的開發時間差不多，我們希望在不久的將來可以進一步縮短開發時間。我們需要學習PXI，PXI Champion團隊可以幫助我們制定框架。我們還改進了內部自研的驅動程序，并開發了許多標準測量程序（CAN、LIN等的特性分析）。這些測量程序開發完成后，特性分析就變得容易了。
我們在全球的所有新項目和開發都使用NI PXI平臺進行特性分析。所有的團隊都在使用PXI和LabVIEW，開發速度都提高了。此外，我們也正使用PXI進行所有的概念驗證，這可能需要1-2年的時間。
我們還可以執行試生產測試，每小時可驗證多達80個IC，每次最多可同時驗證4個IC。基于PXI平臺，我們還計劃利用特性分析平臺的自動化測量功能，來進行試生產測試。由于生產的目標是按時向客戶交付產品以及創造業務價值，所以我們不需要更換平臺，反而使用PXI進行預測試有助于縮短產品上市時間。
如果所有后期部署計劃都順利完成并達到了我們的目標，也就是說如果證明PXI平臺可以提高特性分析質量并加速我們的驗證和工業化過程，我們會考慮下一步將NI基于PXI的半導體測試系統 (STS) 部署到我們的生產車間。
