● 基本精度:±0.65% rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測(cè)試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定)
● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量
● 基本精度:±0.65% rdg.
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● 豐富的接觸檢查(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定)
● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量
關(guān)鍵詞:日置 HIOKI 半導(dǎo)體 器件測(cè)試 瀏覽量:42256
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