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5233D誤碼測試儀助力400Gbps高速光模塊測試


  來源: 電科思儀 時間:2022-08-31 編輯:清風
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隨著信息技術的不斷發展和網絡帶寬需求的不斷提升,下一代路由交換及數據中心設備需要支持更高的速率(≥200Gbps)以及與之對應的信號調制模式(PAM4),這也對以太網誤碼測試儀表提出了更高的要求。


中電科思儀科技股份有限公司基于5233D高速誤碼測試儀可以提供全套的誤碼測試解決方案。5233D主要用于光模塊的誤碼性能測試,支持RS232和以太網遠程控制,具有比特誤碼測試、誤碼率眼圖、電壓拉偏、預加重控制、幅度控制、溫度與功耗監測及DDM監視功能。端口速率覆蓋100Mbps~400Gbps,支持NRZ和PAM4誤碼測試,適合于多種光模塊的研制和生產測試。



5233D通過控制光模塊信號,實現光模塊電信號測試或異常仿真,滿足光模塊功能檢測和光模塊可靠性檢測需求。整機系統由機框,功能板與接口板組成。功能板與接口板組成一個單板系統,單板系統獨立工作。功能板用來實現測試功能,接口板提供與光模塊的接口,功能板和接口板模塊化分離,可按需組合,支持多種類型光模塊的測試。


5233D可以自動識別光模塊種類并進行控制,包括SFP(SFP+/SFP28)、QSFP(QSFP+/QSFP28/QSFP56)、CSFP、CXP、DSFP、SFPDD、QSFPDD、OSFP、CXP3支持按端口和通道進行誤碼測試,可以為光模塊提供電源和電壓拉偏控制,同時支持命令式遠程控制,適合定制自動化測試。


5233D誤碼測試儀的典型應用包括以下幾個方面:


一、比特誤碼測試


5233D支持按端口或通道進行誤碼測試,并上報測試結果。



二、眼圖分析


5233D可按端口或通道返回眼高、眼寬等信息。




三、光模塊控制及信息查詢


5233D可對光模塊單獨操作,包括上電、掉電、發光、復位等,可顯示光模塊狀態、光模塊I/O信號、光模塊告警信息以及寄存器信息等。



5233D高速誤碼測試儀已成功應用于通信、網絡靶場、科研教學等眾多領域,助力科研、生產、測試、維保等多個環節,為信息船速和系統與設備提供先進的測試保障。

關鍵詞:5233D誤碼測試儀 高速光模塊 測試    瀏覽量:4976

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