熱成像是一種精確、可計量、非接觸式的診斷技術，可用于觀測和量化測量表面溫度的分布和變化情況。目前已廣泛應用在各行業的研發領域。今天，小菲就來給大家盤點一下，適合科研用的FLIR高級紅外熱像儀。

FLIR紅外熱像儀具有鎖定、保持和脈沖功能，可執行各種高級檢測工作，如：無損測試（NDT）、應力制圖，能分辨小至1mK的溫差。無損測試（NDT）被廣泛應用于在不對被測目標物造成損傷的情況下評估材料、元件或系統的性質。紅外熱像儀能夠通過均勻加熱被測物體并觀察目標面上的溫度差來檢測內部缺陷。

熱像儀的使用方式，分為獨立使用和集成系統兩種方式，FLIR科研用熱像儀有各個型號來滿足您的需求。

獨立使用：FLIR T系列紅外熱像儀

FLIR T1050sc/T800/T500系列等手持式科研級熱像儀適合研發過程中，根據需要可靈活移動檢測實驗過程。

FLIR T系列具備高靈敏度的高清探測器、采用便攜靈活設計，是一款由電池供電的手持式非制冷式長波紅外熱像儀，旨在滿足用戶對高熱靈敏度、快速原始全輻射數據傳輸、可定制的處理功能。它們的熱靈敏度（NETD）< 20mK，高于行業標準兩倍以上，高達2000°C的寬測溫范圍（包括標定）。

其FLIR OSX精密高清紅外鏡頭系統具有超聲驅動對焦、環境溫度補償和雜散輻射抑制功能。該系列熱像儀采用能進行獨立式數據收集和實時輻射分析的系統，內嵌整套工具箱。借助FLIR Thermal Studio軟件可以查看、獲取、分析和分享數據，大大提高實驗成功幾率。

集成系統：FLIR A系列紅外熱像儀

如果實驗檢測過程需要長期在線監測，無需移動熱像儀，比如做老化測試，建議選擇FLIR A系列科研用紅外熱像儀。比如FLIR A400/A500/A700科研套件可為研究人員和工程師提供簡化的解決方案，作為在線熱像儀，集成到整個實驗系統中，搭配FLIR微距模式，可精準測得小型組件的紅外數據，實時傳輸保存每幀每個像素點溫度數據，進行7*24小時的長期監測。

FLIR A50/A70研發套件是經濟實惠的開箱即用型解決方案，適合用于概念驗證電子電路檢測和研發的熱成像分析。通過提供多種測溫工具，用戶可消除臆測，縮短產品開發時間，提供產品效率和可靠性。

FLIR A6700sc中波紅外熱像儀系列搭載制冷式銻化銦(InSb)探測器，工作波段為1到5微米，也可選擇3-5微米的工作波段，擁有<20 mK的高熱靈敏度，能捕捉到細微的圖像細節。

FLIR A6750 SLS長波紅外熱像儀適用于觀測高速熱事件和快速移動目標，它提供極短積分時間和超過4,000 Hz的窗口幀頻，因此能夠定格移動對象運動并測得準確的溫度值。

此外，FLIR 科研用熱像儀還有FLIR X8000sc/X6000sc 高端制冷中波紅外熱像儀，其熱圖像高達1280 x1024像素（FLIR X8580）會顯示非常微小的細節并確保出色的測量精度，而快速動態場景也會被精確記錄，640512全分辨率時速度高達355 Hz（FLIR X6980），它們可滿足科學家和研發專業人員嚴苛的應用要求。