本示例為對上圖1所示的“SMA線纜（ZA17）”及“SMA線纜+6dB衰減器”在USB3.2Gen1眼圖測試中進行去嵌。

圖5 USB3.2Gen1眼圖測試連接示意圖

圖6 USB3.2Gen1眼圖測試實測連接圖

Step1：

首先，分別連接USB3.2Gen1的差分正負信號，其中正端使用“SMA線纜（ZA17）”連接示波器端口1和USB3.0夾具“＋端”，負端使用“SMA線纜+6dB衰減器”連接示波器端口3和USB3.0夾具“－端”。因為±端口有6dB的衰減，且兩根SMA線纜長度不同，造成USB3.2Gen1的差分信號正負級幅度有一倍的差別，且有一個明顯的延遲。差分信號的±端實測結果如下圖所示：

圖7 USB3.2Gen1差分正負信號（因C3負端接了一個6dB衰減器，故其幅度僅為C1正端一半。C1與C3 SMA線纜長度不一致，造成C1與C3之間有一個明顯的延遲）

Step2：

使用R&S RTP示波器的硬件“單端轉差分”功能，把單端信號實時轉換為差分信號。測試結果如下圖所示：

圖8 RTP硬件“單端轉差分”（因C1與C3幅度差別較大，造成差模/共模信號質量都較差）

Step3：

使用R&S RTP示波器的“高級眼圖分析”功能生成經過這兩段線纜的USB3.2Gen1信號的眼圖，并測量眼寬/眼高等參數。其結果如下圖所示：

圖9 RTP“高級眼圖分析”生成眼圖（眼圖質量較差）

Step4：

分別在上述3組測試中開啟“實時去嵌”功能。將這兩根SMA線纜（含衰減器）的S參數導入RTP示波器的“去嵌功能”中，對這兩根SMA線纜分別進行實時去嵌。

圖10 USB3.2Gen1差分正負信號（去嵌后，正負端幅度/延遲影響都已去除）

圖11 RTP硬件“單端轉差分”（去嵌后，差模/共模信號質量較好）

圖12 RTP“高級眼圖分析”生成眼圖（去嵌后，眼圖質量較好）

#結語

本文介紹了高速串行信號測試中對夾具/線纜/連接器等進行去嵌的必要性和在R&S RTP示波器上進行實時去嵌的方法。并以實際測量驗證了通過R&S矢量網絡分析儀ZNB測量S參數，以及通過R&S RTP示波器對夾具/線纜/連接器等進行去嵌前后的對比結果。