紅外熱像儀在研發中的應用早已普遍用，它來監測實驗過程，可以看清更多細節，保障實驗成功，比如FLIR X-HS科學紅外熱像儀符合國防、學術和商業研究與測試應用的行業標準，可滿足對高速或高分辨率紅外數據采集功能的需求，適用于全世界大多數關鍵測試場景是科學家/工程師/研究人員和質量保證經理等，比較傾向選擇的型號，那么它有哪些“過人之處”呢？

不丟幀、無數據損失，滿足嚴苛要求

無論是電子電路產品研發，還是高校實驗研究過程監控，數據都需要嚴謹、準確、全面、記錄完整。選擇FLIR X-HS系列熱像儀可同時適用于中波紅外(MWIR)和長波紅外(LWIR)光譜，其連接和機載記錄功能較以往型號表現更出色。使用它，用戶可體驗全新的10GigE和CoaXPress（CXP）2.1高速接口，它可提供一小時以上的快速圖像流式傳輸和數據傳輸功能，能在提升效率的同時確保高數據保真度。

完美捕捉記錄開槍瞬間的所有熱細節

此外，其機載記錄選配件包括可拆卸的非易失性存儲器快速通道(NVMe)固態硬盤(SSD)，保證能夠無損記錄關鍵紅外事件。4TB高速SSD現已成為所有X系列HS熱像儀的標配，利用SSD擴展錄制，用戶可無丟幀地將超過1.5小時的詳細紅外數據記錄在熱像儀上。

及時共享數據，加強團隊合作

科學研發過程，需要團隊中各個成員精誠合作，及時共享研究數據，促成實驗成功。FLIR X-HS系列熱像儀讓用戶能夠輕松將完整錄像從SSD傳輸至計算機，確保紅外數據隨時可供分析。借助它可打造精確的計時系統，實驗室或現場操作人員可使用無損機載記錄、高速傳輸、數據傳輸及觸發和同步功能，確保事件記錄精確、低延時。

X-HS系列熱像儀還搭載了四位電動濾鏡輪，支持FLIR電動調焦鏡頭（可實現更精確的對焦和遠程對焦），可提供更高質量的記錄，節省操作時間，使用戶更從容應對動態數據采集環境。

整理海量數據，降低成本

實驗過程中需要對大量檢測結果進行整理，這對于研發人員來說也是不小的工作量，通過搭配FLIR Research Studio專業軟件，借助簡化、直觀的圖形用戶界面(GUI))和獨特的功能集，科學家、工程師、研究人員和質量保證經理們可利用FLIR X-HS系列熱像儀混合數據集并同步多個傳感器，例如與其他FLIR A系列、X系列和T系列熱像儀同步，創建綜合全面的分析報告，為決策提供有效支持。

此外，根據特定應用(如電子電路板級設計和測試、國防研究及其他商業和學術用例)的具體需求，用戶可通過在FLIR平臺上實現標準化，降低成本并提升互換性。

FLIR X-HS系列科學紅外熱像儀可主要應用在彈道學、無損檢測、作應力圖PCB和電子部件測試、輻射測量等是科學家/工程師/研究人員和質量保證經理們比較青睞的一款科學級制冷熱像儀。