【基本原理】 |
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【規格指標】 (2)能夠檢測硅片各種缺陷,包括電阻率、厚度、TTV、P/N、線痕、幾何尺寸、臟污、孔洞、隱裂、BOW/WARP; 關鍵詞: 瀏覽量:1059 聲明:凡本網注明"來源:儀商網"的所有作品,版權均屬于儀商網,未經本網授權不得轉載、摘編使用。 ![]()
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