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平面多探頭并行測試解決方案


  來源: 思儀科技 時間:2024-12-31 編輯:清風
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相控陣天線以其小型化、輕型化、波束指向精度高、旁瓣抑制能力強等特點,在5G毫米波通信和寬帶低軌衛星獲得廣泛應用。同時,由于相控陣天線存在多通道、多頻點、多波束等多種組合工作狀態,對測試效率提出了更高要求。中電科思儀科技股份有限公司研發的平面多探頭并行測試解決方案,具備測試效率高、測試精度高、擴展靈活等特點,可滿足相控陣天線研發和生產過程中的快速測試需求。


圖 1 平面多探頭測試系統原理圖


圖 2 平面多探頭測試場景


多探頭測試解決方案是通過多個探頭同時獲得相控陣天線多個位置處的近場幅相數據,利用近遠場變化算法得到天線的遠場方向圖。其系統主要由微波暗室、多探頭陣列、二維掃描架、轉臺、控制系統、數據采集與分析軟件等部分組成,共同保障了相控陣天線測試的效率和精度。


多探頭測試解決方案采用高隔離正交雙極化探頭,利用自適應幅相一致性校準技術可有效降低耦合信號,提高天線測試精度;結合硬件時鐘同步觸發的多通道接收技術、脈沖觸發時序控制技術等技術實現相控陣天線的多通道、多頻點、多波束快速測試功能。


圖 3 雙極化波導探頭


針對不同尺寸的被測天線,配備不同尺寸與數目的多探頭陣列,可形成暗室式和暗箱式的測試產品,前者適用于大型被測天線的快速測試,后者更側重于便攜性和靈活性,更適用于小型被測天線批產過程中的快速測試。


總結


中電科思儀科技股份有限公司通過自主研發高隔離度正交雙極化波導探頭設計、自適應幅相校準、同步時序設計與并行測試等技術,實現了相控陣天線的高效率、高精度測試。隨著導航、通信、衛星互聯網等天線技術的快速發展,平面多探頭測試技術將持續創新完善,為天線的研制與生產提供支撐保障。


關鍵詞:平面多探頭 并行測試 解決方案    瀏覽量:3757

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