當(dāng)今半導(dǎo)體測(cè)試工程師面臨的挑戰(zhàn)是如何尋找和創(chuàng)建一個(gè)新的測(cè)試解決方案,該方案被要求能夠顯著降低測(cè)試成本,并滿足可配置、開(kāi)放架構(gòu)、靈活的測(cè)試解決方案的需求,這些解決方案可以提供與專用ATE平臺(tái)相媲美的功能。特別是,對(duì)于低至中等數(shù)量的測(cè)試需求,例如在試生產(chǎn)、驗(yàn)證和集中生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試應(yīng)用,對(duì)靈活且經(jīng)濟(jì)高效的ATE解決方案的需求尤為迫切。對(duì)于這些應(yīng)用,測(cè)試工程師過(guò)去一直依賴傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng),這些系統(tǒng)的購(gòu)置成本很低,但運(yùn)營(yíng)成本很高,或者是內(nèi)部設(shè)計(jì)的機(jī)架堆疊的解決方案。然而,基于PXI平臺(tái)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)解決方案在功能和性能方面在過(guò)去這些年中取得了顯著的進(jìn)步,為測(cè)試工程師提供一個(gè)可行的替代方案,以滿足當(dāng)前和未來(lái)的測(cè)試需求。
1、半導(dǎo)體測(cè)試要求
數(shù)字和混合信號(hào)設(shè)備的基本測(cè)試需求包括直流/交流參數(shù)和功能測(cè)試。對(duì)于直流測(cè)試,設(shè)備的所有引腳都必須有特征,這需要一個(gè)PMU。一個(gè)PMU可以提供源電壓來(lái)測(cè)量電流或提供源電流來(lái)測(cè)量電壓,并且設(shè)備的所有引腳必須能夠被訪問(wèn)。如果使用單個(gè)PMU,則需要某種類型的開(kāi)關(guān)/多路復(fù)用器。一旦完成直流特性化,就可以對(duì)設(shè)備進(jìn)行功能/交流參數(shù)測(cè)試。在這種情況下,具有足夠深的內(nèi)存、每通道可編程性(電壓、負(fù)載和方向)、可編程邊緣位置和實(shí)時(shí)比較的數(shù)字儀器為測(cè)試交流參數(shù)和功能提供了關(guān)鍵特性。圖1顯示了一個(gè)處理這些功能的基本設(shè)置。
所示配置對(duì)于即使是中等引腳數(shù)的ATE系統(tǒng)也不實(shí)用?,F(xiàn)在的PXI測(cè)試系統(tǒng)采用了每管腳或每通道一個(gè)PMU的架構(gòu),提供了高通道數(shù)配置和優(yōu)異的測(cè)試性能(速度和測(cè)量精度)。圖2詳細(xì)說(shuō)明了一個(gè)數(shù)字儀器的結(jié)構(gòu),其中包括每個(gè)引腳的PMU配置。PXI測(cè)試系統(tǒng)在小型、緊湊、單PXI機(jī)箱中提供高通道數(shù)數(shù)字和混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)。
2、直流參數(shù)測(cè)試功能
如前所述,PMU可用于兩種模式之一,以對(duì)數(shù)字設(shè)備的輸入和輸出引腳進(jìn)行直流特性測(cè)試:
施加電壓并測(cè)量電流。通過(guò)這種方法,PMU采用恒定電壓,并利用其車載測(cè)量能力,測(cè)量被測(cè)設(shè)備/管腳所消耗的電流。PMU提供的電壓也可以測(cè)量。
施加電流并測(cè)量電壓。通過(guò)這種方法,參數(shù)測(cè)量單元要么施加一個(gè)恒定的電流流過(guò)一個(gè)器件,要么從一個(gè)器件引腳引入一個(gè)灌電流,然后測(cè)量產(chǎn)生的電壓。也可以測(cè)量PMU的灌/拉電流。
通過(guò)將每個(gè)通道的PMU與數(shù)字測(cè)試功能組合在一臺(tái)儀器中,可以大大簡(jiǎn)化在數(shù)字和混合信號(hào)設(shè)備上執(zhí)行的一系列直流測(cè)試。在數(shù)字設(shè)備上進(jìn)行的常見(jiàn)直流測(cè)試包括輸入電壓電平(VIH/VIL)、輸出電壓電平(VOL/VOH)、輸入漏電和輸出短路電流測(cè)試。
3、輸入漏電流測(cè)試和I-V測(cè)試功能
測(cè)試一個(gè)設(shè)備的輸入包括漏電流測(cè)試以及表現(xiàn)在被測(cè)設(shè)備(DUT)的每個(gè)輸入端上的保護(hù)二極管的特性。這些測(cè)試是通過(guò)在規(guī)定的測(cè)試電壓范圍內(nèi),逐步向DUT輸入引腳施加恒定電壓,并測(cè)量每個(gè)步驟的輸入電流(圖3)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。由于漏電流通常在uA范圍內(nèi),PMU應(yīng)設(shè)置為更靈敏的電流范圍,以實(shí)現(xiàn)更精確的測(cè)量。
要執(zhí)行輸入泄漏測(cè)試,DUT需要通電,同時(shí)PMU引腳設(shè)置為施加電壓/測(cè)量電流模式。在每個(gè)輸入電壓設(shè)置下,PMU測(cè)量輸入電流,然后根據(jù)DUT規(guī)格驗(yàn)證該值。PMU提供的實(shí)際測(cè)試電壓也可以被測(cè)量。該測(cè)試技術(shù)也可用于VIL和VIH的測(cè)試。
為了測(cè)量/表征連接到設(shè)備接地和VCC引腳的輸入保護(hù)二極管,PMU配置為施加電壓/測(cè)量電流模式,電壓以小增量遞增,以便為每個(gè)二極管生成V-I曲線。該器件在0.7伏的結(jié)電壓下開(kāi)始導(dǎo)電。
4、交流參數(shù)測(cè)試功能
為了充分利用大型ATE專有數(shù)字儀器中的功能和功能,現(xiàn)在基于PXI的數(shù)字子系統(tǒng)必須具有每引腳或通道的靈活和動(dòng)態(tài)計(jì)時(shí)能力。