伴隨著光通信技術的快速發展，硅光芯片、光器件、光模塊及中短距離光通信網絡（如機載、車載光網絡）的精確故障定位與診斷，已成為研發人員工作中的瓶頸。上述場景對測試設備分辨率、靈敏度要求較高。為解決該難題，“思儀科技”推出了基于OFDR（光頻域反射技術）的微米級光纖鏈路測試方案。

圖 1  微米級光纖鏈路測試方案

本方案攻克了偏振衰落效應抑制技術、掃頻非線性補償技術、事件分析技術等難題，能夠以20微米空間分辨率探測鏈路內部構成，單次掃描即可獲取損耗曲線，最短測量時間僅需5秒。本方案可快速精確的提供各器件插回損、位置等關鍵信息，真正做到芯片級“可視化”。

a 全局視圖

b 標記處局部放大

圖 2  可調光衰減器模塊測試效果

a 全局視圖（紅色：非導通狀態，藍色：導通狀態，下同）

b 標記處局部放大

圖 3  光開關模塊測試效果

圖2、圖3為本方案實際測試效果圖。憑借著微米級分辨率與高靈敏度的優勢，圖中測試曲線清晰反映了可調光衰減器模塊、光開關模塊內部密集的事件點（熔接點、耦合器、特殊結構等）。結合事件分析技術，微米級光纖鏈路測試方案能夠對事件點進行自動檢測，輔助用戶精確定位故障位置，并獲取關注區域插回損。對待測鏈路多次測量，長度測試重復性小于100微米。

思儀科技開發的微米級光纖鏈路測試方案可廣泛應用于各類光通信器件的研發、生產領域，大幅提高用戶測試效率，降低測試成本。同時本方案擴展性強，可根據用戶實際需求添加功能模塊、定制系統軟件。思儀科技持續關注光電測試需求，致力于為用戶提供優質的產品和服務，期待與您的合作。